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論文

Amorphization from the quenched high-pressure phase in III-V and II-VI compounds

毛利友紀*; 加藤小百合*; 森博子*; 片山芳則; 辻和彦*

Review of High Pressure Science and Technology, 7, p.353 - 355, 1998/03

http://ci.nii.ac.jp/naid/10002690121

GaSb,AlSb,GaAs,GaP,InAs,ZnSe及びCdTeの相転移の温度依存性を、30GPaまでの高圧力下,90-300Kの温度範囲で、X線回折測定により調べた。相転移は圧力-温度相図中の経路に依存する。減圧後の回収試料の構造は結合のイオン性に依存する。イオン性の小さい場合はアモルファスになり、イオン性の大きい場合は安定な閃亜鉛鉱型構造、イオン性が中程度の場合は微結晶になる。これらの結果を配位座標モデルを用いて議論する。